用于微电子及半导体检测，近人端设计，显微观察经常使用的控制机构靠近操作者。方便您观察样本时可以更快更方便的对显微镜进行操作。 正像观察镜筒，标配正像观察镜筒，与传统的倒像镜筒相比，平台移动与目镜观察同步性更高。
内置离合器平台手柄可实现载物平台的快速与慢速两种移动方式，能够对大面积样本进行快速定位。与平台微调手柄配合使用，使精确快捷定位样本不再困难。
内置控制面板将特定按钮设定为与特定物镜产生对应关系，只需轻轻一按即可轻松改变放大倍率。
图像拼接
景深融合/ 3D重建
超大载物平台微电子及半导体样本往往面积较大，普通的金相显微镜平台不能满足它们的观察需求。NX1000 拥有超大的载物平台和超大的移动范围，并且移动方便快捷。是大面积工业样本显微观察的理想工具。
防静电保护罩工业样本往往惧怕浮尘，些许浮尘就会影响产品品质及检验结果，NX000 拥有大面积的防静电保护罩。
较长工作距离及高 NA 物镜各种电子元件及半导体等使电路板样本有较大的高低落差，采用较长工作距离的专用物镜。
落射明场
NX1000 采用优秀的 NIS 无线远光系统。视场均匀，明亮，色彩还原度高。适合观察半导体等不透明样本。
暗场
可实现明亮的暗场观察，可以对细小划痕等缺陷进行高灵敏度的检测。适合对高要求的样本进行的表面检测。
透射明场
对于透明的样本，如 FPD、光学元件等，可通过投射光聚光镜实现明场观察。同时也可搭配 DIC、简易偏光等附件使用。
简易偏光
此观察方法适合具有双折射性质的标本，如金相组织、矿物、LCD 和半导体材料。
落射 DIC
用于观察精密模具中的细小差异。该观察技术可以将普通观察中无法看到的细微高度差异，用浮雕和三维图像的形式表达出来。
高分辨率制冷彩色摄像头
TC6CCD
1 英寸 600 万像素 CCD
高分辨率彩色摄像头
T6CCD
高速彩色摄像头
T16
4/3 英寸 1600 万像素 CMOS
Product Recommendation
无论是尺寸极小的传感器还是大尺寸的晶圆，更甚至于整个液晶显示屏 , 都能用 NX2000S工业检测显微镜进行观察。全电动设计，结构稳定，日常工作变得尽可能舒适和轻松。超大的移动范围，能方便快捷地进行样本的移动与聚焦，快速定位样本范围，是大面积工业样本显微观察的理想工具。
NX2000 是大面积工业样本显微观察的理想工具。能够对大面积样本进行快速定位，更换方便的载物台插件，无论您想要检验的样品是哪种类型，尺寸如何，均能够快速定位。采用模块化设计，可实现明场、暗场、微分干涉、偏光等观测方法。多元电动化和人机工程学设计，镜检观察更加智能、简便。
无论是尺寸极小的传感器还是大尺寸的晶圆，更甚至于整个液晶显示屏都能用 NX 系列工业检测显微镜进行观察。各种尺寸的载物平台及超大 的移动范围，能方便快捷地进行样本的移动与聚焦，快速定位样本范围，是大面积工业样本显微观察的理想工具。
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